CSTC 공용장비 리스트

Mapping System

모델명	큐빅레이져시스템
제조사	MSTECH
용도	광전류 측정 및 맵핑
기타	미보유 파장대 레이저 측정 불가

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	70,000
POSTECH(내부)	63,000
CSTC 참여연구실	49,000~59,500
장비기증 연구실	7,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

Vacuum Chamber

모델명	M5VC
제조사	MSTECH
용도	진공 및 저온 측적용
기타	액체질소 (100K)

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	50,000
POSTECH(내부)	45,000
CSTC 참여연구실	35,000~42,500
장비기증 연구실	5,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

- 액체질소 사용 금액은 별도임

Probe Station

모델명	MST 8000
제조사	MSTECH
용도	소자 측정용
기타	200도 이상 온도 측정 불가

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	30,000
POSTECH(내부)	27,000
CSTC 참여연구실	21,000~25,500
장비기증 연구실	3,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

- Tip 손상시 교체 비용

PMU

모델명	4225-RPM
제조사	Keithley
용도	고속 펄스 측정
기타

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	70,000
POSTECH(내부)	63,000
CSTC 참여연구실	49,000~59,500
장비기증 연구실	7,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

강유전체 측정 시스템

모델명	Precision premier-II
제조사	RADIANT
용도	강유전체 측정용
기타	고전압 사용 불가, ±30V 이하에서만 사용)

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	50,000
POSTECH(내부)	45,000
CSTC 참여연구실	35,000~42,500
장비기증 연구실	5,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

다중 주파수 정전용량 측정기 (K4200 IV)

모델명	4200A-SCS
제조사	Keithley
용도	측정 변수 분석용
기타	고전압 200V 이상 불가

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	50,000
POSTECH(내부)	45,000
CSTC 참여연구실	35,000~42,500
장비기증 연구실	5,000

-이용료 부과기준: 1 시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

다중 주파수 정전용량 측정기 (K4200 CV)

모델명	4215-CVU
제조사	Keithley
용도	정전 용량 측정용
기타	고전압 200V 이상 불가

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	70,000
POSTECH(내부)	63,000
CSTC 참여연구실	49,000~59,500
장비기증 연구실	7,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

반도체분석기-1

모델명	4200A-SCS Parameter Analyzer
제조사	Keithely
용도	반도체소자의 전기적 분석장비
기타

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	50,000
POSTECH(내부)	45,000
CSTC 참여연구실	35,000~42,500
장비기증 연구실	5,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

반도체분석기-2

모델명	4200A-SCS parameter Analyzer
제조사	Keithley
용도	반도체소자의 전기적 측정
기타

이용수가(원) / 1시간 기준
기본(외부)	50,000
POSTECH(내부)	45,000
CSTC 참여연구실	35,000~42,500
장비기증 연구실	5,000

-이용료 부과기준: 1시간 단위

- POSTECH 내부 10% 할인, CSTC 참여연구실 15%~30% 할인

Mapping System

Mapping System

Vacuum Chamber

Vacuum Chamber

Probe Station

Probe Station

PMU

PMU

강유전체 측정 시스템

강유전체 측정 시스템

다중 주파수 정전용량 측정기 (K4200 IV)

다중 주파수 정전용량 측정기 (K4200 IV)

다중 주파수 정전용량 측정기 (K4200 CV)

다중 주파수 정전용량 측정기 (K4200 CV)

반도체분석기-1

반도체분석기-1

반도체분석기-2

반도체분석기-2

반도체기술융합센터, 포스텍